E+H 導波雷達物位計FMP45-AAKRGJB21A2Y

E+H Levelflex導波雷達物位計/儀
導波雷達傳物位儀在液體和固體中進行連續物位測量

在導波雷達物位測量中，Levelflex自頂向下安裝，滿足所有行業應用要求。導波雷達調試簡單、*操作方式，節省時間和成本。應用廣泛：可以在簡單儲罐中，在腐蝕性介質中或嚴重粉塵應用中測量。點擊以下按鈕查看更多Levelflex導波雷達物位儀。在導波雷達物位測量中，Levelflex自頂向下安裝，滿足所有行業應用要求。導波雷達調試簡單、*操作方式，節省時間和成本。應用廣泛：可以在簡單儲罐中，在腐蝕性介質中或嚴重粉塵應用中測量。

導波雷達物位儀特別適用于液體和固體的物位測量。反射波安全傳輸使得介質表面條件影響甚微。擾動液體表面或泡沫形成，以及不同彎曲表面或熔爐出口不會影響測量。導波雷達是界面測量的優選

E+H Levelflex導波雷達物位計/儀
導波雷達傳物位儀在液體和固體中進行連續物位測量

在導波雷達物位測量中，Levelflex自頂向下安裝，滿足所有行業應用要求。導波雷達調試簡單、*操作方式，節省時間和成本。應用廣泛：可以在簡單儲罐中，在腐蝕性介質中或嚴重粉塵應用中測量。點擊以下按鈕查看更多Levelflex導波雷達物位儀。在導波雷達物位測量中，Levelflex自頂向下安裝，滿足所有行業應用要求。導波雷達調試簡單、*操作方式，節省時間和成本。應用廣泛：可以在簡單儲罐中，在腐蝕性介質中或嚴重粉塵應用中測量。

導波雷達物位儀特別適用于液體和固體的物位測量。反射波安全傳輸使得介質表面條件影響甚微。擾動液體表面或泡沫形成，以及不同彎曲表面或熔爐出口不會影響測量。導波雷達是界面測量的優選

導波雷達測量基于行程時間原理工作

導波雷達測量：測量原理
Levelflex使用高頻雷達脈沖工作，脈沖沿探頭發射和傳播。脈沖觸及介質表面，介電常數值(相對介電常數)的變化導致部分發射脈沖被反射。儀表測量和分析脈沖發送和接收間的行程時間，直接測量過程連接和介質表面間的距離。

優勢
可靠測量：不受介質表面和罐體內部裝置或擋板的影響
底部回波算法(EoP)使得測量更加安全
在加料過程中也能安全測量

E+H料位計產品型號：

FMP40-ABB3GRJB21AA
FMP45-AAKRGJB21A2A
FMP45-AAKRGJB21A2Y
FMP50-AAACCAAAA1GDJ+AK
FMP51-AAACCAACB3CRJ+AK
FMP51-BBACCDBAB3ATJ+LA L=2400mm
FMP54-NCCECBUAD2PNJ+AKEFF4JAKPLA
FMP55-AAACCANACFK+AK(L=3.5米）
FMP57-AAACALCA4GDE+LA
FMP57-AAACCALAA4CQJAK L=4000MM
FMP57-AALCCALCA4GGE+LA L=13500mm
FMR10-AAQBMWDEWFE2+R7